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Couloscope CMS2 STEP多層鎳電位差測厚儀 COULOSCOPE CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

德國進口DualScope FMP150霍爾效應測厚儀 DualScope FMP150進一步配備了第三種測量原理，即磁性法。它除了采用磁感應法和電渦流法測量涂鍍層厚度外，還可以測量非磁性金屬底材上鎳鍍層的厚度。

現(xiàn)貨DualScope FMP100測厚儀功能升級款 DUALSCOPE FMP100涂層測厚儀自動識別基材，將兩種測量法相結合（磁感應/電渦流，符合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360標準），此通用型設備不僅可以對鋼鐵上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬和非導電基材上的涂層進行測